1、可選的真空鎖（VPI）實現 NeverVent 技術

2、雙離子源加熱器確保大的基質耐受性

3、離軸設計的 S 形離子通道，消除中性噪音

4、固態、均勻、無涂層、不加熱的免維護四極桿

5、AEI 離子源：通過超高聚焦的離子束實現高的靈敏度和穩定性。采用透鏡技術。可選 的配置。

6、高靈敏度 ExtractaBrite 離子源，采用 RF 透鏡，確保系統穩定的基質耐受性。NeverVent 系統的一部分：可在真空下移除

7、適用于高速 SRM 采集的 EvoCell 碰撞池，高可達 800 SRM/s

8、三重離軸 DynaMax XR 檢測系統，10 千赫的 離軸打拿極，離散型電子倍增器和高線性范圍 的靜電計 

直接插入式進樣桿（DIP）：加熱毛細管使固體樣品緩慢揮發，DIP 適于固體或固體 基質中痕量成分（如司法樣品、組織等）的快速分析

直接暴露式進樣桿（DEP）：用于液體或溶液樣品的快速加熱燈絲。DEP 適用于對可 溶固體或懸浮在合適溶劑中的固體樣本進行快速分子量 確認。

化學電離（CI）：相對于電子電離（EI），化學電離是一種軟電離形式。 它提高了生成更多高質量離子甚至分子離子的機會，并 提供源內離子化過程中的更高選擇性或靈敏度。尤以偏 好電負性較高的化合物，如鹵代物的負電荷化學離子化 （NCI）為甚。化學源也是 MS/MS模式下進行結構解 析比較理想的離子源。